DAシンポジウム2010

豊橋で開催されたDAシンポジウムでD3の榎並孝司君、M2の木村修太君が研究成果を発表をしました(2010/9/3)。

"自己性能補償に向けたカナリアFF挿入手法"
"製造後性能補償のためのリーク・遅延相関考慮クラスタリング手法"

また、橋本の昨年のDAシンポジウム2009の発表について、SLDM研究会優秀論文賞を受賞しました。

WISA 2010

韓国チェジュ島で開催されたInternational Workshop on Information Security Applications (WISA)において、D1の天木健彦君が研究成果を発表しました(2010/8/24)。

"A Design Procedure for Oscillator-Based Hardware Random Number Generator with Stochastic Behavior Modeling"

Stanford滞在

大阪大学情報科学研究科の若手教員海外派遣プログラムにより、Stanford大学の Professor Subhasish Mitra の研究室に橋本が2010/8/3から2010/8/28まで滞在しました。高信頼化設計、特にオンラインテスト、論理・電気的バグ検出、ソフトエラー問題に加えて、新たなリレー素子を用いたFPGA, カーボンナノチューブを用いた設計や不良除去技術など幅広い議論を行い、大変刺激的で有意義な時間を過ごすことが出来ました。また、学生との関わり方、企業との関わり方を考える上でも有意義な経験でした。

IntelのDr. Nagib HakimとPost-silicon validationについて、今後の研究に大変役立つ議論も出来ました。

滞在中にUC BerkeleyのBerkeley Wireless Research Centerを訪問し、Prof. Jan Rabaey, Prof. Borivoje Nikolic, Prof. Elad Alonを訪問し、超低電力アプリケーションからばらつき、電源設計などに関する意見交換を行いました。

今後の研究生活に影響を与える貴重な体験でした。本派遣を実現していただいた皆様に深く感謝いたします。

ICD summer workshop

宮島で開催された電子情報通信学会集積回路研究会(ICD)主催のサマーワークショップでD1の天木健彦君が現在進めている研究内容を紹介しました(2010/8/4)。

Jisso-CAD/CAE研究会

2010/6/4に東京ビックサイトで開催されたJisso-CAD/CAE研究会での講演内容が EDA Online で紹介されました。

LSIとシステムのワークショップ2010

北九州市で開催されたLSIとシステムのワークショップ2010でD1のDawood Alnajjar君, M2の郡浦宏明君、原田涼君が研究成果をポスター発表しました。(2010/5/18)

"柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャ"
"α線起因ソフトエラー測定 -- SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価 --"

ANASIM 訪問

アメリカアリゾナ州ギルバートの ANASIM 社を訪問し、Dr. Raj Nair とPower Integrityについて有意義なディスカッションを行いました(2010/5/19)。
ディスカッション後、アリゾナらしい場所を案内して頂きました。

また、つい先日 Dr. Raj Nair が著者の一人で、橋本が chapter co-authorをつとめた本が出版されました(2010/5/17)。

M. Hashimoto and R. Nair, ``Power Integrity Management in Integrated Circuits and Systems,'' Book chapter, Power Integrity Analysis and Management for Integrated Circuits, Prentice Hall PTR, May 2010.
R. Nair, M. Hashimoto, and N. Srivastava, ``IC Power Integrity and Optimal Power Delivery,'' Book chapter, Power Integrity Analysis and Management for Integrated Circuits, Prentice Hall PTR, May 2010.

GLSVLSI2010

ロードアイランド州プロビデンスで開催されたGLSVLSI(ACM Great Lake Symposium on VLSI)で、昨年度に卒業した阿部慎也君の研究成果を橋本が代理で発表しました(2010/5/17)。

"Clock Skew Reduction by Self-Compensating Manufacturing Variability with On-chip Sensors"

SPI2010

ドイツのヒルデスハイムで開催されたSPI(IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects)で、M2の高井康充君が研究成果の発表を行いました(2010/5/10)。

"Measurement of On-chip I/O Power Supply Noise and Correlation Verification between Noise Magnitude and Delay Increase due to SSO"

IRPS2010

カリフォルニア州アナハイムで開催されたIRPS(International Reliability Physics Symposium)で今春卒業した更田裕司君が在学時代の研究成果を発表をしました(2010/5/5)。

本成果はPC Watchで紹介されました(2010/5/18)。

"Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM"