Friday, July 16, 2021

プレスリリース (宇宙線のミュオンと中性子が引き起こす 半導体ソフトエラーの違いを解明)

ソシオネクストとの共同研究研究について、高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所、京都大学複合原子力科学研究所、大阪大学大学院情報科学研究科から共同プレスリリースを行いました (2021/7/16)。大阪大学在籍時の成果です。

https://www.socionext.com/jp/pr/sn_pr20210716_01j.pdf
https://www.kek.jp/ja/press/20210716/
https://www.kyoto-u.ac.jp/ja/research-news/2021-07-16-0
https://resou.osaka-u.ac.jp/ja/research/2021/20210716_2

プレスリリースのもととなった論文は以下の論文です。
T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake, “Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(7), pp. 1436-1444, July 2021.