アメリカカリフォルニア州サンノゼで開催されたISQED(IEEE International Symposium on Quality Electronic Design)でM1の郡浦宏明君、原田諒君が研究成果を発表をしました(2010/3/24)。
``Comparative study on delay degrading estimation due to NBTI with circuit/instance/transistor-level stress probability consideration''
``Measurement Circuits for Acquiring SET Pulse Width Distribution with Sub-FO1-inverter-delay Resolution''
橋本は、ISQED2010のプログラム委員を務めていました。
Tuesday, March 30, 2010
Saturday, March 20, 2010
TAU 2010
カリフォルニア州サンフランシスコで開催されたTAU(ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems)でD2の榎並孝司君が研究成果を発表をしました(2010/3/18)。
"Statistical Timing Analysis Considering Clock Jitter and Skew due to Power Supply Noise and Process Variation"
また、昨年度に卒業した阿部慎也君の研究成果を橋本が代理で発表しました(2010/3/19)。
"Clock Skew Reduction by Self-Compensating Manufacturing Variability with On-chip Sensors"
"Statistical Timing Analysis Considering Clock Jitter and Skew due to Power Supply Noise and Process Variation"
また、昨年度に卒業した阿部慎也君の研究成果を橋本が代理で発表しました(2010/3/19)。
"Clock Skew Reduction by Self-Compensating Manufacturing Variability with On-chip Sensors"
電子情報通信学会総合大会
東北大学で開催された電子情報通信学会総合大会において、サブスレッショルド回路設計に関する研究成果の紹介を橋本が行いました(2010/3/17)。
"製造ばらつきや環境変動を許容するサブスレッショルド回路設計"
"製造ばらつきや環境変動を許容するサブスレッショルド回路設計"
NTU-Waseda Joint Workshop
国立台湾大学で開催されたNTU-Waseda Joint Workshopでサブスレッショルド回路設計に関する研究成果を橋本が紹介しました(2010/1/22)。
"Robust Subthreshold Circuit Design to Manufacturing and Environmental Variability"
"Robust Subthreshold Circuit Design to Manufacturing and Environmental Variability"
修士論文
無事、修士論文を書き上げ、発表を終えました(2010/2/15)。
天木 健彦, "オシレータサンプリング方式真性乱数生成器の性能評価と周期ゆらぎ増幅回路の提案"
Dawood Alnajjar, "Soft Error Resilient Coarse-Grained Reconfigurable Architecture for Signal Processing"
天木 健彦, "オシレータサンプリング方式真性乱数生成器の性能評価と周期ゆらぎ増幅回路の提案"
Dawood Alnajjar, "Soft Error Resilient Coarse-Grained Reconfigurable Architecture for Signal Processing"
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