LSIとシステムのワークショップ2010

北九州市で開催されたLSIとシステムのワークショップ2010でD1のDawood Alnajjar君, M2の郡浦宏明君、原田涼君が研究成果をポスター発表しました。(2010/5/18)

"柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャ"
"α線起因ソフトエラー測定 -- SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価 --"

ANASIM 訪問

アメリカアリゾナ州ギルバートの ANASIM 社を訪問し、Dr. Raj Nair とPower Integrityについて有意義なディスカッションを行いました(2010/5/19)。
ディスカッション後、アリゾナらしい場所を案内して頂きました。

また、つい先日 Dr. Raj Nair が著者の一人で、橋本が chapter co-authorをつとめた本が出版されました(2010/5/17)。

M. Hashimoto and R. Nair, ``Power Integrity Management in Integrated Circuits and Systems,'' Book chapter, Power Integrity Analysis and Management for Integrated Circuits, Prentice Hall PTR, May 2010.
R. Nair, M. Hashimoto, and N. Srivastava, ``IC Power Integrity and Optimal Power Delivery,'' Book chapter, Power Integrity Analysis and Management for Integrated Circuits, Prentice Hall PTR, May 2010.

GLSVLSI2010

ロードアイランド州プロビデンスで開催されたGLSVLSI(ACM Great Lake Symposium on VLSI)で、昨年度に卒業した阿部慎也君の研究成果を橋本が代理で発表しました(2010/5/17)。

"Clock Skew Reduction by Self-Compensating Manufacturing Variability with On-chip Sensors"

SPI2010

ドイツのヒルデスハイムで開催されたSPI(IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects)で、M2の高井康充君が研究成果の発表を行いました(2010/5/10)。

"Measurement of On-chip I/O Power Supply Noise and Correlation Verification between Noise Magnitude and Delay Increase due to SSO"

IRPS2010

カリフォルニア州アナハイムで開催されたIRPS(International Reliability Physics Symposium)で今春卒業した更田裕司君が在学時代の研究成果を発表をしました(2010/5/5)。

本成果はPC Watchで紹介されました(2010/5/18)。

"Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM"