カリフォルニア州サンディエゴで開催されたIEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)において、D3の増田君、D2の土井くんが研究成果の発表を行いました(2018/11/6)。
"Comparing Voltage Adaptation Performance between Replica and In-Situ Timing Monitors"
"Sneak Path Free Reconfiguration of Via-Switch Crossbars Based FPGA"
Friday, November 09, 2018
Tuesday, November 06, 2018
S3S 2018
アメリカカリフォルニア州Burlingameで開催された、IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)で、橋本が招待講演を行いました(2018/10/16)。
"Characterizing Soft Error Rates of 65-nm SOTB and Bulk SRAMs with Muon and Neutron Beams"
"Characterizing Soft Error Rates of 65-nm SOTB and Bulk SRAMs with Muon and Neutron Beams"
Wednesday, October 10, 2018
名古屋大学 訪問
Monday, September 24, 2018
Technical University of Munich (TUM) 訪問
ドイツのミュンヘン工科大学を訪問し、Prof. Ulf Schlichtmann, Dr. Bing Li, Dr. Li Zhang とディスカッションを行うとともに、下記の講演を行いました(2018/9/20)。
"Comparing Voltage Adaptation Performance between Replica and In-Situ Timing Monitors"
"Comparing Voltage Adaptation Performance between Replica and In-Situ Timing Monitors"
RADECS 2018
スウェーデンのイエテボリで開催されたRadiation Effects on Components and Systems Conference (RADECS)において、D3の廖望君が共同研究成果を発表しました(2018/9/18)。
"Similarity Analysis on Neutron- and Negative Moun-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM"
また共同研究成果を九州大学の真鍋さん、原研の安部さんが発表しました(2018/9/19)。
"Estimation of Muon-Induced Seu Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs"
"Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs"
"
昨年のRADECS2017で発表した下記論文がBest Paper Awardを受賞しました。
"Momentum and Supply Voltage Dependencies of SEUs Induced by Low-Energy Negative and Positive Muons in 65-nm UTBB-SOI SRAMs"
"Similarity Analysis on Neutron- and Negative Moun-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM"
また共同研究成果を九州大学の真鍋さん、原研の安部さんが発表しました(2018/9/19)。
"Estimation of Muon-Induced Seu Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs"
"Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs"
"
昨年のRADECS2017で発表した下記論文がBest Paper Awardを受賞しました。
"Momentum and Supply Voltage Dependencies of SEUs Induced by Low-Energy Negative and Positive Muons in 65-nm UTBB-SOI SRAMs"
Monday, September 03, 2018
DAシンポジウム 2018
石川県加賀市で開催されたDAシンポジウム2018でD2の土井龍太郎君、D3の増田豊君が研究成果を発表をしました(2018/8/29, 2018/8/30)。
"ビアスイッチFPGA再構成時のスニークパス問題を回避するプログラミング順決定手法"
"エラー予告FFとレプリカの電圧マージン制御性能の定量的比較"
ポスターでも増田君が発表し、「優秀ポスター発表賞」を受賞しました(2018/8/30)。
また、増田君は昨年度のDAシンポジウムの発表に対して、「IEEE CEDA All Japan Joint Chapter Academic Research Award」、「システムLSI設計技術研究会2017年度最優秀発表学生賞」、「DAシンポジウム2017 優秀発表学生賞」を受賞しました。
"ビアスイッチFPGA再構成時のスニークパス問題を回避するプログラミング順決定手法"
"エラー予告FFとレプリカの電圧マージン制御性能の定量的比較"
ポスターでも増田君が発表し、「優秀ポスター発表賞」を受賞しました(2018/8/30)。
また、増田君は昨年度のDAシンポジウムの発表に対して、「IEEE CEDA All Japan Joint Chapter Academic Research Award」、「システムLSI設計技術研究会2017年度最優秀発表学生賞」、「DAシンポジウム2017 優秀発表学生賞」を受賞しました。
Sunday, August 26, 2018
ソフトエラー勉強会 2018
Friday, July 13, 2018
ISVLSI 2018
Monday, July 02, 2018
NEWCAS 2018
Saturday, June 02, 2018
プレスリリース(「宇宙線ミュオン」が電子機器の誤作動を引き起こす)
九州大学、高エネルギー加速器研究機構(KEK)、J-PARCセンター、日本原子力研究開発機構(JAEA)との共同研究成果をプレスリリースしました(2018/5/29)。半導体デバイスに対する正および負ミュオン照射試験を行い、正ミュオンに比べて負ミュオンの方がメモリ情報のビット反転の発生確率が高くなることを実験的に初めて明らかにしました。
大阪大学(Web)
九州大学(Web)
KEK(Web)
J-PARC(Web)
JAEA(Web)
関連した新聞報道
日刊工業新聞(2018/6/7)
科学技術新聞(2018/6/8)
関連したWeb上の記事
日本経済新聞オンライン版(速報->プレスリリース)(記事)
Yahooニュース(記事)
Optronics Online(記事)
fabcross for エンジニア(記事)
テック・アイ技術情報研究所(記事)
日刊工業新聞オンライン版(記事)
財経新聞オンライン版(記事)
大学ジャーナル(記事)
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つくばサイエンスニュース(記事)
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SPI 2018
INS 2018
LSIとシステムのワークショップ2018
Thursday, May 03, 2018
VLSI-DAT 2018
国立交通大学訪問
Tuesday, March 27, 2018
QiSS キックオフシンポジウム
CSTIC 2018
中国の上海市で開催された China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)において、招待講演を行いました(2018/3/12)。
"MTTF-aware Design Methodology for Adaptive Voltage Scaling"
"MTTF-aware Design Methodology for Adaptive Voltage Scaling"
Saturday, March 03, 2018
VLD研究会
修士論文
Prof. Sheldon Tan 来訪
アメリカのカリフォルニア大学リバーサイド校のProf. Sheldon Tan が研究室を訪問しました。 下記の講演会を開催し、技術ディスカッションを行いました(2017/12/8)。
"Recent Advances in EM and TDDB induced Reliability Modeling, Analysis and Optimization"
"Recent Advances in EM and TDDB induced Reliability Modeling, Analysis and Optimization"
Thursday, January 25, 2018
ASP-DAC 2018
ICD研究会、CAS研究会
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