"Similarity Analysis on Neutron- and Negative Moun-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM"
また共同研究成果を九州大学の真鍋さん、原研の安部さんが発表しました(2018/9/19)。
"Estimation of Muon-Induced Seu Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs"
"Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs"
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昨年のRADECS2017で発表した下記論文がBest Paper Awardを受賞しました。
"Momentum and Supply Voltage Dependencies of SEUs Induced by Low-Energy Negative and Positive Muons in 65-nm UTBB-SOI SRAMs"
