アメリカカリフォルニア州Burlingameで開催された、IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)で、橋本が招待講演を行いました(2018/10/16)。
"Characterizing Soft Error Rates of 65-nm SOTB and Bulk SRAMs with Muon and Neutron Beams"
京都大学情報学研究科/大阪大学情報科学研究科で行っている集積システム設計の研究活動を紹介します。
