九州大学、高エネルギー加速器研究機構(KEK)、J-PARCセンター、日本原子力研究開発機構(JAEA)との共同研究成果をプレスリリースしました(2018/5/29)。半導体デバイスに対する正および負ミュオン照射試験を行い、正ミュオンに比べて負ミュオンの方がメモリ情報のビット反転の発生確率が高くなることを実験的に初めて明らかにしました。
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