IRPS 2019

アメリカ合衆国カリフォルニア州モントレーで開催された IRPS 2019において、卒業した廖望さんに代わって橋本が研究成果を発表しました(2019/4/3)。

"Negative and Positive Muon-Induced SEU Cross Sections in 28-nm and 65-nm Planar Bulk CMOS SRAMs"