アメリカ合衆国カリフォルニア州モントレーで開催された IRPS 2019において、卒業した廖望さんに代わって橋本が研究成果を発表しました(2019/4/3)。
"Negative and Positive Muon-Induced SEU Cross Sections in 28-nm and 65-nm Planar Bulk CMOS SRAMs"
Friday, May 03, 2019
電子情報通信学会総合大会
博士号取得 (廖 望さん)
博士号取得 (増田 豊さん)
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