郡浦宏明君が2014/3/25付けで学位(大阪大学博士(情報科学))を授与されました。おめでとうございます。経年劣化が回路に与える影響を見積もり、経年劣化を低減し、故障を回避する研究を実施し、学位を取得しました。さらに、CREST DVLSIプロジェクトではチップ設計を大車輪で支え、プロジェクトを成功に導く原動力となってくれました。また、他学生への設計や研究の指導でも大変お世話になりました。今後の益々のご活躍を祈念いたします。
論文題目: "A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance"
