原田諒君が2014/3/25付けで学位(大阪大学博士(情報科学))を授与されました。おめでとうございます。ソフトエラーの実験的評価に関して多くの成果を上げて、学位を取得しました。本研究では、チップ設計、評価、放射線照射実験とTATが長く、失敗が尾を引くプレッシャーのなかで、うまく成果を上げました。今後の益々のご活躍を祈念いたします。
論文題目: "A Study on Experimental Characterization of Radiation-Induced Soft Errors for Low Voltage VLSI Circuits"
