原田諒君が2014/3/25付けで学位(大阪大学博士(情報科学))を授与されました。おめでとうございます。ソフトエラーの実験的評価に関して多くの成果を上げて、学位を取得しました。本研究では、チップ設計、評価、放射線照射実験とTATが長く、失敗が尾を引くプレッシャーのなかで、うまく成果を上げました。今後の益々のご活躍を祈念いたします。
論文題目: "A Study on Experimental Characterization of Radiation-Induced Soft Errors for Low Voltage VLSI Circuits"
Thursday, April 03, 2014
博士号取得
郡浦宏明君が2014/3/25付けで学位(大阪大学博士(情報科学))を授与されました。おめでとうございます。経年劣化が回路に与える影響を見積もり、経年劣化を低減し、故障を回避する研究を実施し、学位を取得しました。さらに、CREST DVLSIプロジェクトではチップ設計を大車輪で支え、プロジェクトを成功に導く原動力となってくれました。また、他学生への設計や研究の指導でも大変お世話になりました。今後の益々のご活躍を祈念いたします。
論文題目: "A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance"
論文題目: "A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance"
ETNET 2014
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