Monday, May 24, 2010

LSIとシステムのワークショップ2010

北九州市で開催されたLSIとシステムのワークショップ2010でD1のDawood Alnajjar君, M2の郡浦宏明君、原田涼君が研究成果をポスター発表しました。(2010/5/18)

"柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャ"
"α線起因ソフトエラー測定 -- SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価 --"