アメリカカリフォルニア州サンノゼで開催されたICCAD(IEEE International Conference on Computer Aided Design)でM1の新開健一君が研究成果を発表をしました(2006/11/6)。
``A Gate Delay Model Focusing on Current Fluctuation over Wide-Range of Process and Environmental Variability''
橋本がセッションThermal Analysis for the Nano Scaleの座長を務めました(2006/11/7)。
橋本は、ICCAD2006のプログラム委員を務めていました。
