プレスリリース(「宇宙線ミュオン」が電子機器の誤作動を引き起こす)

九州大学、高エネルギー加速器研究機構(KEK)、J-PARCセンター、日本原子力研究開発機構(JAEA)との共同研究成果をプレスリリースしました(2018/5/29)。半導体デバイスに対する正および負ミュオン照射試験を行い、正ミュオンに比べて負ミュオンの方がメモリ情報のビット反転の発生確率が高くなることを実験的に初めて明らかにしました。

大阪大学(Web)
九州大学(Web)
KEK(Web)
J-PARC(Web)
JAEA(Web)

関連した新聞報道
日刊工業新聞(2018/6/7)
科学技術新聞(2018/6/8)

関連したWeb上の記事
日本経済新聞オンライン版(速報->プレスリリース)(記事)
Yahooニュース(記事)
Optronics Online(記事)
fabcross for エンジニア(記事)
テック・アイ技術情報研究所(記事)
日刊工業新聞オンライン版(記事)
財経新聞オンライン版(記事)
大学ジャーナル(記事)
ライブドアニュース(記事)
つくばサイエンスニュース(記事)

SPI 2018

フランスのブレスト市で開催された IEEE International Workshop on Signal and Power Integrity (SPI) 2018 で、D2の陈俊君が発表を行いました(2018/5/24)。

"An On-Chip Load Model for Off-Chip PDN Analysis Considering Interdependency Between Supply Voltage, Current Profile and Clock Latency"

INS 2018

東北大学で開催されたInternational Conference on Nanoelectronics Strategy (INS) 2018で、招待講演を行いました(2018/5/15)。

"Via-switch FPGA enabling energy-efficient algorithm-embedded hardware"

LSIとシステムのワークショップ2018

東京大学生産技術研究所で開催されたLSIとシステムのワークショップ2018で、D3の増田豊君と廖望君がポスター発表を行いました(2018/5/14)。

"性能ばらつきを克服する適応的電圧制御の設計と製造後テスト手法"
"ミュオン及び中性子起因ソフトエラーの実測評価"

大阪大学研究情報ポータルサイト「RESOU」

大阪大学研究情報ポータルサイト「ResOU」で特集していただきました(記事)。