NEWCAS 2017

フランスのストラスブールで開催された NEWCAS 2017にて、D2の廖望君が研究成果を発表しました(2017/6/26)。

"Contributions of SRAM, FF and Combinational Circuit to Chip-Level Neutron-Induced Soft Error Rate -- Bulk vs. FD-SOI at 0.5 and 1.0V --"