ソフトエラーに関する勉強会 2013

広島市の広島市立大学、ならびにまちづくり市民交流プラザで開催されたソフトエラーに関する勉強会で、D3の原田諒君が研究成果をポスター発表しました(2013/8/29)。

"薄膜 BOX-SOI(SOTB)を用いた超低電圧SRAMのα線起因SEU耐性"