アメリカイリノイ州の University of Illinois, Urbana Champaignで開催された IEEE Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects (SELSE) において、D1のDawood Alnajjarが研究成果の発表を行いました(2011/3/30)。
"MTTF Measurement Under Alpha Particle Radiation in a Coarse-Grained Reconfigurable Architecture with Flexible Reliability"