大阪大学情報科学研究科の若手教員海外派遣プログラムにより、Stanford大学の Professor Subhasish Mitra の研究室に橋本が2010/8/3から2010/8/28まで滞在しました。高信頼化設計、特にオンラインテスト、論理・電気的バグ検出、ソフトエラー問題に加えて、新たなリレー素子を用いたFPGA, カーボンナノチューブを用いた設計や不良除去技術など幅広い議論を行い、大変刺激的で有意義な時間を過ごすことが出来ました。また、学生との関わり方、企業との関わり方を考える上でも有意義な経験でした。
IntelのDr. Nagib HakimとPost-silicon validationについて、今後の研究に大変役立つ議論も出来ました。
滞在中にUC BerkeleyのBerkeley Wireless Research Centerを訪問し、Prof. Jan Rabaey, Prof. Borivoje Nikolic, Prof. Elad Alonを訪問し、超低電力アプリケーションからばらつき、電源設計などに関する意見交換を行いました。
今後の研究生活に影響を与える貴重な体験でした。本派遣を実現していただいた皆様に深く感謝いたします。